仪器名称: 台阶仪
英文名称: Profilometer
规格型号: Dektak XT
国别/厂家: 德国/BRUKER
生产日期: 2021年
购置日期: 2021年
资产编号: G120227226
所属平台: 环境纳米材料研究平台
仪器大类: 结构表征
所属部门: 纳米材料与器件技术研究部
仪器负责人: 许少辉、李世佳
联系电话: 17318517398
联系邮箱: shxu@issp.ac.cn
放置地点: 三号楼406
探针压力0.03g-15mg;测量垂直分辨率£0.1nm;扫描长度:50µm-55mm
半径2µm探针
测量膜厚
块体或薄膜
200元/个