仪器名称： 半导体光电测试系统

英文名称： Semiconductor analysis system

规格型号： Keithley-4200-SCS

国别/厂家： 美国/吉时利

生产日期： 2014年

购置日期： 2014年

资产编号： G120144409

所属平台： 环境纳米材料研究平台

仪器大类： 性能测试

所属部门： 纳米材料与器件技术研究部

仪器负责人： 许少辉、夏凯

联系电话： 19360257690

联系邮箱： shxu@issp.ac.cn

放置地点： 三号楼311