信息
基本信息

场发射透射电子显微镜

TEM

TecnaiG2F20

香港/FEI有限公司

2016年

分类信息

G120175452

微结构表征平台

结构表征

管理信息

材料应用技术发展部

朱晓光

65591637

xgzhu@issp.ac.cn

三号楼109

主要技术指标

加速电压:80KV-200KV;晶格分辨率:0.14nm;点分辨率:0.19nm;电子枪:场发射电子枪

主要附件及配置

OxfordX-max80能谱仪Gatan832CCD相机GatanGIF963HAADFdetector

主要功能用途

主要用于材料微结构与微区组成的分析和研究:电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像(HREM)、扫描透射像(明场像、环状暗场像、Z-衬度像)微区成分:EDS能谱的点、线和面分析微区

测试样品要求

薄膜,粉末,块体

对外收费标准

800元/小时

其他说明