场发射透射电子显微镜
TEM
TecnaiG2F20
香港/FEI有限公司
2016年
G120175452
材料结构与物性表征平台
结构表征
材料应用技术发展部
朱晓光
65591637
xgzhu@issp.ac.cn
三号楼109
加速电压:80KV-200KV;晶格分辨率:0.14nm;点分辨率:0.19nm;电子枪:场发射电子枪
OxfordX-max80能谱仪Gatan832CCD相机GatanGIF963HAADFdetector
主要用于材料微结构与微区组成的分析和研究：电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像(HREM)、扫描透射像（明场像、环状暗场像、Z-衬度像）微区成分：EDS能谱的点、线和面分析微区
薄膜，粉末，块体
800元/小时
中科院固体所微信