高分辨透射电子显微镜
TEM
JEM-2010
日本/电子株式会社
2000年
G2267
材料结构与物性表征平台
结构表征
材料应用技术发展部
许伟
65592753
xuwei@issp.ac.cn
三号楼105
加速电压:80KV~200KV晶格分辨率:0.14nm点分辨率:0.19nm放大倍数:50~1,500,000
该电镜附有选区电子衍射装置,OxfordLinkX射线能量色散谱仪,单倾样品台,双倾样品台(±20°),CCD相机和数字图像处理系统。可进行材料的低、中、高倍数的形貌观察(TEM),高分辨像观察(HRTEM),电子衍射分析(ED,CBD,NBD)和能量色散谱(EDS)分析。
主要用于材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
厚度小于100nm的固体
500/小时