信息
基本信息

高分辨透射电子显微镜

TEM

JEM-2010

日本/电子株式会社

2000年

分类信息

G2267

微结构表征平台

结构表征

管理信息

材料应用技术发展部

许伟

65592753

xuwei@issp.ac.cn

三号楼105

主要技术指标

加速电压:80KV~200KV晶格分辨率:0.14nm点分辨率:0.19nm放大倍数:50~1,500,000

主要附件及配置

该电镜附有选区电子衍射装置,OxfordLinkX射线能量色散谱仪,单倾样品台,双倾样品台(±20°),CCD相机和数字图像处理系统。可进行材料的低、中、高倍数的形貌观察(TEM),高分辨像观察(HRTEM),电子衍射分析(ED,CBD,NBD)和能量色散谱(EDS)分析。

主要功能用途

主要用于材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

测试样品要求

厚度小于100nm的固体

对外收费标准

500/小时

其他说明