X射线衍射仪(高分辨)
XRD
XpertProMPD
荷兰/马尔文帕纳科
2008年
G3051
材料结构与物性表征平台
结构表征
材料应用技术发展部
邵成
65591636
shaocheng@issp.ac.cn
三号楼110
X射线波长:1.5418A精度:0.01°分辨率:0.037°2θ范围:0-120°最小步长:0.0001°
欧拉样品台:Psi:-5°-95°Hybrid(Kα1):ω分辨率为37秒三轴晶:2θ分辨率为12秒Mirror镜(K)
单晶或单晶外延膜质量分析(摇摆曲线及φ扫描)薄膜物相分析
单晶,薄膜
120元/个不超10分钟,有特殊累计时间需求按具体时间收费mapping测试2000元/个